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我們都知道掃描電子顯微鏡平時(shí)的維護養護非常重要，不管儀器是在運作狀態(tài)還是非運作狀態(tài)，都對周?chē)沫h(huán)境有嚴格的要求。這種環(huán)境會(huì )對掃描電子顯微鏡產(chǎn)生緩慢的影響，如果稍不留意就會(huì )使掃描電子顯微鏡的使用壽命慢慢削減。所以使用者要重視這個(gè)問(wèn)題，不要讓環(huán)境影響到掃描電子顯微鏡的精度。小編就環(huán)境對于掃描電子顯微鏡產(chǎn)生的影響進(jìn)行介紹：1、灰塵的影響如果掃描電子顯微鏡的導軌、鏡頭和電源等電子元件沾上了太多塵埃物質(zhì)，就會(huì )對掃描電子顯微鏡的精度、成像造成嚴重影響，導致測量結果不準確，并且還會(huì )加快硬件...

電子顯微鏡按結構和作用可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用于觀(guān)察那些用一般顯微鏡所不能分辨的細微物資結構；掃描式電子顯微鏡主要用于觀(guān)察固體表面的形貌，也能與X射線(xiàn)衍射儀或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用于物資成分剖析；發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。投射式電子顯微鏡因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像擴大而得名。它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿。在這種電子顯微鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡之間的一種觀(guān)察手段。它是運用聚焦十分窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束合物質(zhì)間的相互作用，來(lái)激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大還有再成像為了達到對物質(zhì)微觀(guān)形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率能夠達到1nm；放大倍數能夠達到三十萬(wàn)倍或者以上連續可調；并且景深大，視野大，成像立體效果好。除此之外，掃描電子顯微鏡與其他分析儀器相結合，能夠做到觀(guān)察微觀(guān)形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶...

掃描電鏡中STEM透射模式的應用透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對于有機高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。有機太陽(yáng)能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機固體實(shí)驗室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀(guān)察其分相結構時(shí)，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無(wú)法區分，而應用掃描電鏡的STEM模式觀(guān)察時(shí)，可清楚地觀(guān)察到兩相的結構。應用透射電鏡觀(guān)察生物樣品時(shí)...

掃描電子顯微鏡SEM的基本知識，一定要了解在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著(zhù)極其重要的作用，被廣泛應用于各種材料的形態(tài)結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過(guò)程，可以觀(guān)察金屬材料內部原子的集結方式和它們的真實(shí)邊界，也可以觀(guān)察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡的結構及主要性能掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統、信號收集和顯示系統以及真空抽氣...